產(chǎn)品信息
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產(chǎn)品信息
低溫恒溫器
晶元冷卻用
特征
讓半導(dǎo)體在晶元狀態(tài)下進(jìn)行檢測(cè)
以往的極低溫冷卻設(shè)備只能在半導(dǎo)體的芯片狀態(tài)下進(jìn)行檢測(cè)，然而使用低溫恒溫器可以使之在晶元狀態(tài)下，從室溫到極低溫自由控制溫度。并且，因配備了控制器，可以在冷卻的同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
細(xì)節(jié)圖
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
| 冷頭 | HE05/UW404 | D510/SA115?SW115 | S030/SA115?SW115 |
| 達(dá)到溫度 | 10K以下 | 25K | 40K |
| 溫度控制范圍 | 10K to 300K ±0.2K | 25K to 300K ±0.2K | 40K to 300K ±0.2K |
| 最大晶元尺寸 | 2英寸 | ||
| 樣本架振動(dòng)值 | 1μm 以下（地面震動(dòng)2μm 以下) | ||
| 附屬品 | 真空排氣閥, 溫控用加熱器, 極低溫溫度計(jì)（溫控用/測(cè)溫用） | ||
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