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產品信息

低溫恒溫器
電測定用

特征

分析半導體材料
分析半導體材料中所含不純物質的其中一種方法—DLTS法,可從極低溫到室溫自由控制樣本溫度,進行測定。此外, 還可用于其他所有方式的電測定。

細節圖

標準規格

冷頭 HE05/UW404 D105/SA112?SW112
達到溫度 4K 12K
溫度控制范圍 4K to 300K ±0.2K 12K to 300K ±0.2K
安裝樣本尺寸 10×10×t1 mm
可安裝樣本數 4
附屬品 真空排氣閥, 溫控用加熱器, 極低溫溫度計(溫控用/測溫用),測定用引線, 同軸電纜
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