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產(chǎn)品信息

低溫恒溫器
For X-Ray Diffraction Measurement

特征

使用X射線全面分析樣本組織
以往的X射線測量設(shè)備只能在固定溫度下對樣本進行測定,然而本設(shè)備能夠在極低溫到室溫之間自由變化,進行測量。

標準規(guī)格

Model CRT-A020-S700 CRT-C020-S700 CRT-C010-S700
Coldhead/Compressor HE05/UW404 D510/SW115 D105/SW112
Ultimate Temperature 4K 12K 12K
Temperature Controllable Range 4K to 300K ±0.2K 12K to 300K ±0.2K 12K to 300K ±0.2K
Sample Dimensions 10×10×t1 mm
Number of Samples 1
Accessories Evacuation valve, Heater for temperature control, Cryogenic thermometer (for temperature control / measurement), Coldhead rotation system

*It may vary depending on the operating condition.

目錄

 CRYOSTAT For X-Ray Diffraction Measurement[PDF:326KB]

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