產品信息
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產品信息
低溫恒溫器
晶元冷卻用
特征
讓半導體在晶元狀態下進行檢測
以往的極低溫冷卻設備只能在半導體的芯片狀態下進行檢測，然而使用低溫恒溫器可以使之在晶元狀態下，從室溫到極低溫自由控制溫度。并且，因配備了控制器，可以在冷卻的同時進行測試。
細節圖
標準規格
| 冷頭 | HE05/UW404 | D510/SA115?SW115 | S030/SA115?SW115 |
| 達到溫度 | 10K以下 | 25K | 40K |
| 溫度控制范圍 | 10K to 300K ±0.2K | 25K to 300K ±0.2K | 40K to 300K ±0.2K |
| 最大晶元尺寸 | 2英寸 | ||
| 樣本架振動值 | 1μm 以下（地面震動2μm 以下) | ||
| 附屬品 | 真空排氣閥, 溫控用加熱器, 極低溫溫度計（溫控用/測溫用） | ||
