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產(chǎn)品信息

低溫恒溫器
For Photoluminescence Measurement

特征

自由控制樣本和溫度
以往的光致發(fā)光解析測定,只有將硅(Si)和砷化鎵(GaAs)等樣本固定在一定溫度才能進(jìn)行測定,而使用本極低溫冷卻設(shè)備,可以讓樣本從室溫到極低溫范圍,保持冷卻狀態(tài)在X?Y?Z軸方向移動測定。

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

Model CRT-A020-S200 CRT-C020-S200 CRT-C010-S200
Cryocooler/Compressor HE05/UW404 D510/SW115 D105/SW112
Ultimate Temperature 4K 12K 12K
Temperature Controllable Range 4K to 300K ±0.2K 12K to 300K ±0.2K 12K to 300K ±0.2K
Optical Window Dimensions Light Inlet : φ20(mm), Photoluminescence : φ30(mm), Reflected Light : φ20(mm)
Sample Dimensions 10×10×1t(mm)
Number of Samples 3
Accessories Evacuation valve, Heater for temperature control, XYZ Table
, Cryogenic thermometer (for temperature control / measurement), Coldhead Accessories rotation system

*It may vary depending on the operating condition.

目錄

 CRYOSTAT For Photoluminescence Measurement[PDF:308KB]

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