產(chǎn)品信息
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產(chǎn)品信息
低溫恒溫器
電測定用
特征
分析半導體材料
分析半導體材料中所含不純物質(zhì)的其中一種方法—DLTS法，可從極低溫到室溫自由控制樣本溫度，進行測定。此外， 還可用于其他所有方式的電測定。
細節(jié)圖
標準規(guī)格
| 冷頭 | HE05/UW404 | D105/SA112?SW112 |
| 達到溫度 | 4K | 12K |
| 溫度控制范圍 | 4K to 300K ±0.2K | 12K to 300K ±0.2K |
| 安裝樣本尺寸 | 10×10×t1 mm | |
| 可安裝樣本數(shù) | 4 | |
| 附屬品 | 真空排氣閥, 溫控用加熱器, 極低溫溫度計（溫控用/測溫用）,測定用引線, 同軸電纜 | |
